薄膜測厚儀，又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
（1）測量范圍為0～2mm(常規)(0～6mm可選)；
（2）自動走樣，液晶顯示(包含配套軟件)；
（3）測量速度為(可調)；
（4）測量壓力為17.5±1kPa(薄膜)。
儀器配置
標準配置：主機、微型打印機、標準量塊一件
選購件：專業軟件、通信電纜、配重砝碼盤、配重砝碼
非接觸式設備
英國公司研發出的非接觸式測量方法測厚儀，可以實現對薄膜的非接觸式測量，避免對紙張造成形變引起誤差。
薄膜測厚儀根據其測量方式的不同，可分為：
接觸式薄膜測厚儀：點接觸式，面接觸式。
非接觸式薄膜測厚儀：射線，渦流，超聲波，紅外等
注：我們所能見到的包裝材料實驗室厚度測試的標準，包括標淮，**、美國、日本、歐洲標準等均*采用機械式測厚中的面接觸測厚的方式，同時該方法也被作為薄膜，鋁箔，紙張等材料的仲裁方法。
測量注意事項：
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。
1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業計算機相連接，并*處理數據并輸出偏差值到各種工業設備。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為**，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。主要應用行業：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工。
3、紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
5、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
6、超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭**的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
（1）嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制?測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差?支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。
（2）實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶進行判斷?配置標準量塊用于系統標定，保證測試的精度和數據一致性。
（3）系統支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果。
（4）系統由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板（特點是耐磨；PVC聚氯乙烯polyvinylchloride，?重復單元為的具有無規構型結構的聚合物，是一種通用型合成樹脂。根據添加增塑劑的不同，可分為硬質和軟質聚氯乙烯兩類。）方便用戶進行試驗操作和數據查看。
（5）標準的RS232接口（RS-232-C接口（又稱EIA?RS-232-C）是常用的一種串行通訊接口。它是在1970年由美國電子工業協會（EIA）聯合貝爾系統、調制解調器廠家及計算機終端生產廠家共同制定的用于串行通訊的標準。它的全名是“數據終端設備（DTE）和數據通訊設備（DCE）之間串行二進制數據交換接口技術標準”），便于系統的外部連接
（1）采用進口優質傳感器，測厚分辨率高達0.1微米選用優質傳動元件，確保了試驗結果的穩定性與準確性。
（2）大液晶屏顯示，操作簡便，配備微型打印機直接打印試驗報告。
（3）另外具有電腦通信接口，通過選購軟件實現數據的*性存儲、查詢、打印；軟件功能強大，可將成組試驗數據用柱形圖或列表方式進行統計，試結報告可直接在局域網或廣域網中進行傳輸
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